Домівка
Новини
Переклад
Проект
Форум
Допомога
Учасники
Авторизуватися
Зареєструватися
. .
•Персональні дані
kazandibi00
•Всі переклади
▪▪Запитані переклади
•
Улюблені переклади
•Список проектів
•Отримане
▪Вільний мовний обмін
•English
•Türkçe
•Français
•Español
•Italiano
•Português brasileiro
•Deutsch
•Română
•عربي
•Русский
•Svenska
•Ελληνικά
•Български
•עברית
•Shqip
•Srpski
•Nederlands
•Dansk
•Português
•Polski
•汉语(简体)
•Lietuvių
•Norsk
•فارسی
•Suomi
•Hrvatski
•日本語
•Català
•Esperanto
•한국어
▪▪Українська
•Føroyskt
•नेपाली
•Kiswahili
Всі переклади
Пошук
Запитані переклади - kazandibi00
Пошук
Мова оригіналу
Мова, якою перекладати
Результати 1 - 2 з 2
1
411
Мова оригіналу
özet
The atomic force microscope (AFM) is ideally suited for characterizing nanoparticles. It offers the capability of 3D
visualization and both qualitative and quantitative information on many physical properties including size, morphology,
surface texture and roughness. Statistical information, including size, surface area, and volume distributions,
can be determined as well. A wide range of particle sizes can be characterized in the same scan, from 1 nanometer
to 8 micrometers.
Завершені переклади
Atomik Kuvvet Mikroskopu
1